Micropioneer XRF-2020L測厚儀韓國微先鋒的詳細(xì)資料:
Micropioneer XRF-2020L測厚儀韓國微先鋒系列
是一種基于X射線熒光原理的無損檢測設(shè)備?
通過激發(fā)鍍層元素產(chǎn)生特征射線并分析其強度來測量金屬表面鍍層厚度
適用于電鍍,電子制造,半導(dǎo)體等行業(yè)的質(zhì)量控制。
技術(shù)參數(shù)與工作原理
XRF-2020系列鍍層測厚儀核心技術(shù)是?X射線熒光光譜分析?:
高能X射線照射樣品時,鍍層元素被激發(fā)釋放特征熒光,探測器捕獲信號后通過算法計算鍍層厚度。
具體參數(shù)包括:??
?
精準(zhǔn)度?:
單層鍍層測量誤差≤±5%以內(nèi),
多層鍍層誤差隨層數(shù)增加略升:
表層正負(fù)5%,第二層正負(fù)10%,第三層15%。??
?
測量范圍?:0.02-30um,可檢測金、鎳、銅,錫,銀等12種元素,
最多分析5層復(fù)合鍍層
如Sn/Ni/Cu或Sn/Ni/Cu,Ag/Ni/Cu ,Sn/Ni/Al,不限底料
?檢測時間?:單次檢測僅需10–30秒
XRF-2020系列均配備自動對焦
應(yīng)用領(lǐng)域與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
該設(shè)備滿足高精度工業(yè)檢測需求,主要場景包括:
?電子與半導(dǎo)體?:五子端子連接器等,芯片引腳等。??
?汽車與航空航天?:檢測發(fā)動機部件鎳鉻鍍層
?電鍍與五金?:測量鋅鎳合金鍍層及鋅鎳含量檢測

X射線鍍層測厚儀韓國先鋒XRF-2020膜厚儀
三款機型均為全自動臺面
自動雷射對焦,可多點自動測量
可測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍鉻,鍍銅,鍍鋅鎳合金等!
測量單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層。
Micropioneer XRF-2020L測厚儀韓國微先鋒
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