Micrp XRF-2020測厚儀標準片的詳細資料:
Micrp XRF-2020測厚儀標準片
標準件是X-RAY膜厚測量儀檢測工具
用于校正檢測應用曲線準確性
膜厚測試儀中的測量曲線準確與否須經用校整計量后的標準件檢測及更新
應用于測厚儀校正及測量曲線更新
標準件各種厚度均可以訂制:金鎳銀錫銅鋅鈀鉑鈦鋅鋅合金等
標準件均含計量校正證書
適合各種X射線鍍層測厚儀,各種不同品牌通用
Micrp XRF-2020測厚儀標準片
適合各種X射線鍍層測厚儀
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片
專業用于X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案,在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品
根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系
來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。
對于PCB、五金端子連接器電鍍和半導體等行業
使用測厚儀檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
標準件為薄片,可自由組合不同鍍層,如下圖所示

測厚儀標準片韓國XRF膜厚儀校正片
標準片所有X射線測厚儀通用
鈦,鈀,銅,鎳,鋅,鉻,金,錫,銀,鋅鎳合金:
各種規格厚度標準片均訂制


標準件各種厚度均可以訂制:
金鎳銀錫銅鋅鈀鉑鈦鋅鋅合金等
均含計量校正證書
標準件
適應不同品牌鍍層測厚儀
標準片通用!
應用于測厚儀校正及程序更新
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