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產(chǎn)品名稱：X射線鍍層測厚儀XRF-2020原理及功能
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報(bào)價(jià)：
產(chǎn)品特點(diǎn)：X射線鍍層測厚儀XRF-2020原理及功能原產(chǎn)地：韓國型號：XRF-2020系列功能及應(yīng)用:快速無損測量電鍍層厚度可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層測量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等！測量范圍0.02-35um鍍層測厚儀功能XRF-2020膜厚測量儀
X射線鍍層測厚儀XRF-2020原理及功能的詳細(xì)資料：
X射線鍍層測厚儀XRF-2020原理及功能
XRF-2020系列系統(tǒng)利用了當(dāng)一個(gè)樣品被x射線輻射照射時(shí)，樣品的原子被激發(fā)的現(xiàn)象。當(dāng)原子恢復(fù)到穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)，它們會發(fā)出x射線光子。每個(gè)元素都有其不同的特征發(fā)射線。這些能量被記錄在系統(tǒng)中，并存儲于計(jì)算機(jī)。通過將獲得的光譜中的元素線與系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫中列出的相應(yīng)元素線進(jìn)行比較，來確定給定樣本的元素。
在獲得的光譜中，元素線的強(qiáng)度（幅度）與其濃度或厚度有關(guān)。增加元素的濃度或厚度結(jié)果是該元素的熒光輻射特性強(qiáng)度的增加。通過使用經(jīng)驗(yàn)或理論的物理模型，該系統(tǒng)可以提供精確的定性和定量的分析或厚度測量。
韓國MicropioneerXRF-2000/XRF-2020
功能及應(yīng)用:
快速無損測量電鍍層厚度
可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層
測量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等！
測量范圍0.02-35um
鍍層測厚儀功能XRF-2020膜厚測量儀
XRF-2020測厚儀規(guī)格
XRF-2020L型:
測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
XRF-2020H型:
測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點(diǎn)自動測量
多個(gè)準(zhǔn)直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多個(gè)或單個(gè)準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動切換
X射線鍍層測厚儀XRF-2020原理及功能
原產(chǎn)地：韓國
型號：XRF-2020系列
功能及應(yīng)用:
快速無損測量電鍍層厚度
可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層
測量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等！
測量范圍0.02-35um
鍍層測厚儀功能XRF-2020膜厚測量儀
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