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快速無損測量電鍍層厚度

XRF-2020測厚儀

XRF-2000測厚儀

韓國微先鋒X-RAY膜厚儀

測量原理：

物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

儀器規格

XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

XRF-2000測厚儀東莞膜厚儀XRF-2020

快速無損測量

鍍金，鍍銀，鍍錫，鍍銀，鍍鎳，鍍銅，鍍鋅鎳合金等！

Microp XRF-2000型號已升級為XRF-2020

微先鋒MicroP XRF-2020

可測單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層

鍍銀測量范圍0.1-50um
鍍鎳測量范圍0.5-30um
鍍銅測量范圍0.5-30um

鍍金測量范圍0.03-6um

鍍錫測量范圍1-60um

鍍鋅測量范圍0.5-30um

鋅鎳合金測量范圍1-25um

通過CCD鏡頭觀察快速無損測試鍍層膜厚
測量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫
測量的鍍層范圍:0.03微米～35微米。

XRF-2020測厚儀XRF-2000膜厚儀

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