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產(chǎn)品名稱：韓國先鋒XRF2000鍍層測厚儀
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報價：
產(chǎn)品特點：韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀測量電子電鍍,化學電鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...可測單層,雙層,多層,合金鍍層
韓國先鋒XRF2000鍍層測厚儀的詳細資料：
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀
1 ,全自動可編程XYZ三軸定位全自動工作臺,工作臺行(200*150*140)
平均移動速度60mm/s,工作臺重復定位精度優(yōu)于0.01mm
2,激光點精密定位測量位置,具有高分辯CCD彩色攝像頭樣品觀察視察
手動或自動聚焦方式
3 可無損測量及定性分析元素17CL-92U
可對單一金屬鍍層及多鍍層合金鍍厚度進行測量.
4 X射線管高壓0-50KV(程控)
管電流0-1Ma
5:可進行無損鍍層厚度測量及鍍層成分定性分析及鍍液分析
7 鍍層測量精鍍,*層正負5%,第二層10% 第三層15%
9 測量軟件具有對多個測量結果進行統(tǒng)計分析和圖表顯示功能.
10 測量結果多種單位可轉換,顯示小數(shù)點后三位.
11,準直器在小:0.1mm 0.2mm 0.3mm 0.4mm 0.05*0.3mm (5個)
韓國先鋒X-RAY膜厚儀測量范圍
Au 0.03-4um
Pd 0.03-4um
Ni 0.05-20um
Ni-P 0.05-20um
Sn 0.05-80um
Ag 0.03-20um
Cr 0.05-20um
Zn 0.05-20um
ZnNi 0.05-20um
SnCu 0.05-20um
韓國XRF-2000X射線鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
設備功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)
使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量膜厚層
各種樣品單層至多層（5層），合金膜層均可測量
定點自動定位分析
光徑對準全自動
影像重疊功能
自動顯示測量參數(shù)
彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)
多重統(tǒng)計顯示視窗與報告編輯應用2D/3D，任意位置測量控制Y軸全自動控制雷射對焦與自動定位系統(tǒng)
多種機型選擇X-ray運行待命（睡眠）控制溫控穩(wěn)定延長校準時效全進口美日系零件價格優(yōu)勢及快速的服務時效
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀
測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)
使用X熒光射線可作非接觸非破壞快速分析膜層
擁有多種濾波器選擇
各種樣品單層至多層（5層），合金膜層與溶液均可測量
定點自動定位分析
光徑對準全自動
影像重疊功能
自動顯示測量參數(shù)
彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀精度控制：
*層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±15%以內(nèi)
| 如果你對韓國先鋒XRF2000鍍層測厚儀感興趣，想了解更詳細的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
