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產品名稱：金鎳X射線測厚儀
產品型號：
產品報價：
產品特點：金鎳X射線測厚儀自動雷射對焦多點自動測量 （方便操作人員準確快捷檢測樣品）測量樣品高度不超過4cm（亦有10CM可選）鍍層厚度測試范圍：0.03－35um可測試單層，雙層，多層
金鎳X射線測厚儀的詳細資料：
金鎳X射線測厚儀
韓國先鋒X射線鍍層測厚儀
型號:XRF-2000測厚儀系列
快速檢測各種材質上鍍層厚度,可測單層,雙層,多層,合金鍍層厚度
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
如銅上鍍鎳鍍金,銅上鍍鎳,銅上鍍銀,鐵上鍍鋅,銅上鍍鎳鍍鉻等
測量范圍:0.04-35um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒內便可準確知道鍍層厚度
全自動臺面,自動雷射對焦, 操作非常方便簡單
XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能*,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統，十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺，
可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業可測量各類金屬層、合金層厚度等。
可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U） 原子序 22 – 92
準直器：固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統：液晶顯示器，彩色打印機
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統計功能
X射線鍍層測厚儀,X熒光無損測厚儀,X-RAY膜厚儀,電鍍測厚儀 韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀
X射線鍍層測厚儀,測量電鍍層厚度,如電鍍或化學鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍銅,鍍鋅鎳合金等.
機器配置
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過4cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測試范圍：0.04－35um
可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間：10－30秒
測量功能:單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層
精度控制：
首層：±5%以內
第二層：±8%以內
第三層：±12%以內
金鎳X射線測厚儀
| 如果你對金鎳X射線測厚儀感興趣，想了解更詳細的產品信息，填寫下表直接與廠家聯系： |
