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產品名稱：XRF-2000測厚儀校正片
產品型號：
產品報價：
產品特點：韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
XRF-2000測厚儀校正片的詳細資料：
韓國Micro Pioneer XRF-2000測厚儀標準片
鍍層測厚儀校正片
適合各種X光鍍層測厚儀
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
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